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簡(jiǎn)要描述：廣電計量聚焦大規模集成電路失效分析,汽車(chē)電路測試技術(shù)，擁有業(yè)界專(zhuān)家團隊及先進(jìn)的失效分析設備，可為客戶(hù)提供完整的失效分析檢測服務(wù)，幫助制造商快速準確地定位失效，找到失效根源。
廠(chǎng)商性質(zhì)：工程商更新時(shí)間：2024-03-13訪(fǎng)問(wèn)次數：404產(chǎn)品分類(lèi)
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| 品牌 | 廣電計量 | 服務(wù)區域 | 全國 |
|---|---|---|---|
| 服務(wù)周期 | 常規5-7個(gè)工作日 | 服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS |
| 服務(wù)費用 | 視具體項目而定 |
服務(wù)范圍
大規模集成電路芯片
檢測項目
| 試驗類(lèi)型 | 試驗項? |
| 無(wú)損分析 | X-Ray、SAT、OM 外觀(guān)檢查 |
| 電特性/電性定位分析 | IV曲線(xiàn)量測、Photon Emission、OBIRCH、ATE測試與三溫(常溫/低溫/高溫)驗證 |
| 破壞性分析 | 塑料開(kāi)封、去層、板級切片、芯片級切片、推拉?測試 |
| 微觀(guān)顯微分析 | DB FIB切片截?分析、FESEM檢查、 EDS微區元素分析 |
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
服務(wù)背景
汽車(chē)新“四化"要求更強大的芯片功能，同時(shí)，車(chē)規級集成電路的集成度日益提?，也使車(chē)規級半導體芯片結構和制造工藝也日益復雜。這對可靠性提出了更高的要求，也帶來(lái)了更大的難度，集成電路更容易失效，但失效定位與根源分析卻成為一大難題。大規模集成電路失效分析,汽車(chē)電路測試
我們的優(yōu)勢
廣電計量聚焦大規模集成電路失效分析,汽車(chē)電路測試技術(shù)，擁有業(yè)界專(zhuān)家團隊及先進(jìn)的失效分析設備，可為客戶(hù)提供完整的失效分析檢測服務(wù)，幫助制造商快速準確地定位失效，找到失效根源。同時(shí)，我們可針對客?的研發(fā)需求，提供不同應?下的失效分析咨詢(xún)、協(xié)助客戶(hù)開(kāi)展實(shí)驗規劃、以及分析測試服務(wù)，如配合客戶(hù)開(kāi)展NPI階段驗證，在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客戶(hù)完成批次性失效分析。
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