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簡(jiǎn)要描述:功率半導體器件是新能源、軌道交通、電動(dòng)汽車(chē)、工業(yè)應用和家用電器等應用的核心部件。功率循環(huán)作為功率器件耐久性試驗中的一種,被工業(yè)界和學(xué)術(shù)界認為是考核功率器件封裝可靠性最重要的可靠性測試。廣電計量提供一站式功率循環(huán)測試,汽車(chē)功率器件封裝可靠性測試服務(wù)。
產(chǎn)品分類(lèi)
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品牌 | 廣電計量 | 服務(wù)區域 | 全國 |
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服務(wù)周期 | 常規5-7個(gè)工作日 | 服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS |
服務(wù)費用 | 視具體項目而定 |
服務(wù)內容
廣電計量功率循環(huán)測試,汽車(chē)功率器件封裝可靠性測試通過(guò)負載電流加熱和開(kāi)關(guān)斷動(dòng)作,來(lái)模擬器件工作中的結溫波動(dòng),通過(guò)一定程度的加速老化,以提前暴露器件封裝的薄弱點(diǎn),評估封裝材料的熱膨脹系數差異對器件壽命的影響,是考核功率器件封裝可靠性最重要的可靠性測試,也是進(jìn)行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。
服務(wù)范圍
功率循環(huán)測試,汽車(chē)功率器件封裝可靠性測試,車(chē)規級功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設計產(chǎn)品。
檢測標準
● DINENISO/IEC17025:General Requirements for the Competenceof Testing and Calibration Laboratories
● IEC 60747系列:Semiconductor Devices, Discrete Devices
● IEC 60749系列:Semiconductor Devices ? Mechanical and Climatic Test Methods
● DIN EN 60664系列:Insulation Coordination for Equipment Within Low-Voltage Systems
● DIN EN 60069系列:Environmental testing
● JESD22-A119:2009:Low Temperature Storage Life
檢測項目
根據負載電流加熱的時(shí)長(cháng)不同,功率循環(huán)測試分為秒級功率循環(huán)(PCsec), 分鐘級功率循環(huán)(PCmin),如電力電子模塊AQG324測試標準規定,不同的負載電流加熱時(shí)長(cháng),考察的封裝體對象也不同。如下表:
測試項目 | 加熱時(shí)長(cháng) | 考察對象 |
秒級功率循環(huán)(PCsec) | Ton<5s | 靠近芯片附近的互連層 |
分鐘級功率循環(huán)(PCmin) | Ton>15s | 離芯片互連較遠的互連層 |
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
測試周期
常規5-7個(gè)工作日
服務(wù)背景
功率循環(huán)測試被稱(chēng)為考核功率器件封裝可靠性最重要的實(shí)驗,尤其是 SiC MOSFET 功率器件的快速發(fā)展,是近幾年的研究熱點(diǎn)。與其他可靠性測試不同的是,功率循環(huán)測試原理雖然簡(jiǎn)單,但測試技術(shù)、測試方法和數據處理卻涉及到半導體物理、電磁學(xué)、傳熱學(xué)、結構力學(xué)和信號分析等多學(xué)科交叉,處理不當將得到錯誤的結論。
我們的優(yōu)勢
廣電計量在Si基功率半導體模塊、SiC模塊等相關(guān)測試有著(zhù)豐富的實(shí)戰經(jīng)驗,是SiC領(lǐng)域是國內技術(shù)能力全面的第三方檢測機構之一,為眾多半導體廠(chǎng)家提供模塊的規格書(shū)參數測試、競品分析、環(huán)境可靠性、壽命耐久和失效分析等一站式測試服務(wù)。
在功率循環(huán)測試方向,廣電計量引進(jìn)多臺西門(mén)子功率循環(huán)測試機臺Power Tester1800A/1500A,同時(shí)還有部分國產(chǎn)高可靠性功率循環(huán)測試機臺,能提供水冷/水乙二醇混合冷卻/油冷等冷卻方式,并且滿(mǎn)足20℃~125℃的底溫要求,產(chǎn)能充足。
手法,可以協(xié)助廠(chǎng)家進(jìn)行AQG324的認證檢測;擁有經(jīng)驗豐富的材料及電性能可靠性專(zhuān)家,可以針對功率半導體進(jìn)行多方位的失效分析及可靠性驗證方案的設計與執行。
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