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廣電計量提供半導體材料微結構分析與評價(jià)服務(wù),提供半導體材料元素成分分析,結構分析,微觀(guān)形貌分析測試服務(wù),CNAS資質(zhì)認可,幫助客戶(hù)全面了解半導體材料理化特性.
雙束掃描電子顯微鏡(DB-FIB)是將聚焦離子束和掃描電子束集成在一臺顯微鏡上,再加裝氣體注入系統(GIS)和納米機械手等配件,從而實(shí)現刻蝕、材料沉積、微納加工等許多功能的儀器。廣電計量能提供一站式雙束掃描電子顯微鏡檢測,材料微觀(guān)分析服務(wù)。
電子元器件失效分析經(jīng)常用到的檢查分析方法簡(jiǎn)單可以歸類(lèi)為無(wú)損分析、有損分析。有損分析就是對器件進(jìn)行各種微觀(guān)解剖分析,其首要要求就是在避免人為損傷的前提下,展現內部缺陷形貌。離子研磨(CP)測試是切片制樣技術(shù)常用到的先進(jìn)輔助技術(shù)。廣電計量提供離子研磨測試,材料CP檢測服務(wù)。
材料及其制品都是一在一定溫度環(huán)境下使用的,在使用過(guò)程中,將對不同的溫度做出反應,表現出不同的熱物理性能,即為材料的熱血性能。材料的熱學(xué)性能主要包括熱容、熱膨脹、熱傳導、熱穩定性等。廣電計量可針對性研究材料樣品性質(zhì)與溫度間關(guān)系,提供材料?致性評價(jià)及熱力學(xué)分析服務(wù)。
廣電計量腐蝕機理與疲勞測試,元件材料檢測為軌道交通、電廠(chǎng)、鋼鐵設備生產(chǎn)廠(chǎng)、經(jīng)銷(xiāo)商或代理商提供交流阻抗,極化曲線(xiàn),電化學(xué)噪?,疲勞試驗。
金屬材料的失效形式及失效原因密切相關(guān),失效形式是材料失效過(guò)程的表觀(guān)特征,可以通過(guò)適當的方式進(jìn)行觀(guān)察。而失效原因是導致構件失效的物理化學(xué)機制,需要通過(guò)失效過(guò)程調研研究及對失效件的宏觀(guān)、微觀(guān)分析來(lái)診斷和論證。廣電計量金屬與高分子材料失效分析可以針對客戶(hù)的產(chǎn)品的類(lèi)型,生產(chǎn)工藝和失效現象提供定制化服務(wù)。
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